1. Advances in materials characterization II
پدیدآورنده : Symposium on Advances in Materials Characterization, )4891, Alfred, N.Y.(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Materials-- Testing-- Congresses,، Surfaces )Technology(-- Congresses
رده :
TA
410
.
S93
1984
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
2. Applied surface analysis :a symposium
پدیدآورنده : sponsored by ASTM Committee E-24 on Surface Analysis, American Society for Testing and Materials, Cleveland, Ohio, 82 Feb.-1 March, 8791 ; T. L. Barr, L. E. Davis, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Analysis Congresses ، Surfaces )Technology(
رده :
TA
418
.
7
.
A68
1980
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
3. Quantitative surface analysis of materials : a symposium
پدیدآورنده : sponsored by ASTM Committee E-24 on Surface Analysis, American Society for Testing and Materials, Cleveland, Ohio, 2-3 March 7791 ; N. S. McIntyre, editor
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Quantitative Congresses ، Chemistry, Analytic,Analysis Congresses ، Surfaces )Technology(
رده :
QD
101
.
2
.
S95
1978
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)